NF C96-022-9-2002 半导体装置.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性
作者:标准资料网
时间:2024-05-19 17:41:45
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part9:permamenceofmarking.
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性
【标准号】:NFC96-022-9-2002
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2002-12-01
【实施或试行日期】:2002-12-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;电子工程;清晰度;永久的;半导体;环境试验;气候;气候试验;集成电路;电学测量;机械试验;定义;电子设备及元件;作标记;半导体器件;元部件;电气工程
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性
【标准号】:NFC96-022-9-2002
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2002-12-01
【实施或试行日期】:2002-12-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;电子工程;清晰度;永久的;半导体;环境试验;气候;气候试验;集成电路;电学测量;机械试验;定义;电子设备及元件;作标记;半导体器件;元部件;电气工程
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P;A4
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