ASTM D7268-2006 包括密集织物和游泳衣的集密编织服饰的标准性能规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-04 06:40:47   浏览:8544   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:StandardPerformanceSpecificationforSeamlessKnitGarmentsIncludingIntimatesandSwimwear
【原文标准名称】:包括密集织物和游泳衣的集密编织服饰的标准性能规范
【标准号】:ASTMD7268-2006
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:D13.61
【标准类型】:(Specification)
【标准水平】:()
【中文主题词】:服饰;衣服;性能规范;集密的;游泳服
【英文主题词】:performancespecification;seamlessknitgarments
【摘要】:1.1Thisspecificationcoverstheevaluationofspecificperformancecharacteristicsofimportanceinseamlessknitgarments,includingcamisoles,panties,slips,girdlesandswimwear.Thefollowingsafetyhazardscaveatpertainsonlytothetestmethodsdescribedinthisperformancespecification:Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpractices,anddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:Y76
【国际标准分类号】:61_020
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:


下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Healthinformatics-Electronichealthrecordcommunication-Part3:referencearchetypesandtermlists.
【原文标准名称】:健康信息学.电子健康记录信息.第3部分:参考原型和术语表
【标准号】:NFS97-544-3-2008
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2008-06-01
【实施或试行日期】:2008-06-21
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:计算机科学;控制;数据交换;数据处理;数据记录;数据表示;定义;分配;分配网;电子数据处理;电子的;英语;信息交换;信息处理;医疗信息学;医学科学;中间设备;病人;个人保健;公共卫生;记录;记录品(文献);语义学;句法
【英文主题词】:Computersciences;Controlling;Dataexchange;Dataprocessing;Datarecords;Datarepresentation;Definition;Definitions;Distribution;Distributionnetworks;EDP;Electronic;Englishlanguage;Informationinterchange;Informationprocessing;Medicalinformatics;Medicalsciences;Middleware;Patients;Personalhealth;Publichealth;Recording;Records(documents);Semantics;Syntax
【摘要】:
【中国标准分类号】:C07
【国际标准分类号】:35_240_80
【页数】:50P.;A4
【正文语种】:其他


基本信息
标准名称:硅外延片检测方法
英文名称:Method of inspection for silicon epitaxial wafers
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属
发布部门:中华人民共和国第四机械工业部
发布日期:1980-03-01
实施日期:1980-06-01
首发日期:
作废日期:2010-02-01
出版日期:1980-06-01
页数:9页
适用范围

本标准规定了N/N、P/P结构硅外延片的检测方法。其检测项目有外延层电阻率、外延层厚度、层错密度、位错密度、夹层和表面缺陷等

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属